一種基于電容陣列的芯片參數(shù)檢測方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010013541.3 申請日 -
公開（公告）號 CN111207659A 公開（公告）日 2020-05-29
申請公布號 CN111207659A 申請公布日 2020-05-29
分類號 G01B7/00;G01B7/31;G01B7/30;G01B7/06;G01D5/24 分類 測量；測試;
發(fā)明人 霍彥明;李爭;張路成;李曉偉;谷存江 申請（專利權(quán)）人 石家莊輻科電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 石家莊國為知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 代理人 秦敏華
地址 050018 河北省石家莊市裕華東路70號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種基于電容陣列的芯片參數(shù)檢測方法及裝置，涉及電子元器件檢測領(lǐng)域。上述芯片參數(shù)檢測方法及裝置通過將待檢測芯片置于電容陣列的上極板陣列與下極板陣列之間，分別采集各個電容的電容值，得到電容值矩陣，基于電容值矩陣中目標(biāo)元素所在位置，確定待檢測芯片的中心軸線，基于中心軸線和預(yù)設(shè)的0度參考線，確定并輸出待檢測芯片的偏移角度，從而有利于貼片機(jī)根據(jù)該偏移角度對待檢測芯片進(jìn)行針對性操作，避免了限制裝置的使用，提升了芯片貼片作業(yè)的效率。