一種用于惡劣環(huán)境的中階梯光柵光譜儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201821361273.9 申請日 -
公開（公告）號 CN208653651U 公開（公告）日 2019-03-26
申請公布號 CN208653651U 申請公布日 2019-03-26
分類號 G01J3/28（2006.01）I; G05D23/19（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 朱繼偉; 崔繼承; 崔弘; 馬婷婷 申請（專利權(quán)）人 長春長光格瑞光電技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 吉林省長春市新時(shí)代專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 長春長光格瑞光電技術(shù)有限公司
地址 130000 吉林省長春市北湖科技開發(fā)區(qū)明溪路1759號吉林省光電子產(chǎn)業(yè)孵化器有限公司D315-D323
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種用于惡劣環(huán)境的中階梯光柵光譜儀，包括：殼體、探測器、置于探測器前端的光室、制冷器、計(jì)算機(jī)、溫控表、固態(tài)繼電器、四路熱電偶數(shù)據(jù)采集器、置于殼體底部的加熱薄膜和傳感器，所述傳感器與四路熱電偶數(shù)據(jù)采集器相連，所述計(jì)算機(jī)分別與四路熱電偶數(shù)據(jù)采集器、探測器、溫控表和制冷器相連，所述溫控表與固態(tài)繼電器相連，所述固態(tài)繼電器與加熱薄膜相連。通過在光譜儀殼體的各部分安裝傳感器以及通過制冷器和加熱薄膜實(shí)現(xiàn)溫度變化的檢測和溫度控制，從而達(dá)到光譜儀在煉鋼等惡劣環(huán)境下外部溫度在0?50℃時(shí)，都可以對光譜儀內(nèi)部溫度控制在20±2℃滿足光譜儀的工作溫度。