等離子顯示屏制造過程數(shù)據(jù)挖掘系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201310161147.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN103268329B | 公開(公告)日 | 2015-12-23 |
申請公布號 | CN103268329B | 申請公布日 | 2015-12-23 |
分類號 | G06F17/30(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 李濤;鄭理;王鵬年;賈建軍;虞尚友;雷鳴;段冰;顧尚林;王軍;張春 | 申請(專利權(quán))人 | 四川虹歐顯示器件有限公司 |
代理機構(gòu) | 成都九鼎天元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 四川虹歐顯示器件有限公司 |
地址 | 621000 四川省綿陽市經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)綿州大道中段186號長虹工業(yè)園 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種等離子顯示屏制造過程數(shù)據(jù)挖掘系統(tǒng),包括數(shù)據(jù)探索模塊、數(shù)據(jù)挖掘模塊、分布特性量化模塊、結(jié)果顯示存儲模塊和系統(tǒng)調(diào)度管理模塊。本發(fā)明的積極效果是:本系統(tǒng)不但能有效挖掘出等離子顯示屏制造過程制造工序BR,PH設(shè)備環(huán)境參數(shù)與良率的關(guān)系;還能挖掘出等離子顯示屏制造過程制造全工序數(shù)據(jù)中與主要工序不良類型相關(guān)的重要參數(shù);以及挖掘出等離子顯示屏制造過程制造BR工序中不良代碼與點燈不良類型的關(guān)系。 |
