芯片SLT測試的軟件實現(xiàn)方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110708174.3 申請日 -
公開（公告）號 CN113254296A 公開（公告）日 2021-08-13
申請公布號 CN113254296A 申請公布日 2021-08-13
分類號 G06F11/263（2006.01）I;G06F11/273（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 趙朋飛;陳慶;韓向陽 申請（專利權(quán)）人 上海勵馳半導(dǎo)體有限公司
代理機構(gòu) 北京德崇智捷知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 曹婷
地址 200000上海市浦東新區(qū)上海自由貿(mào)易試驗區(qū)祥科路111號2號樓217室,晨暉路88號2幢3層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種芯片SLT測試的軟件實現(xiàn)方法及系統(tǒng)，涉及芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，解決了SLT測試軟件的移植率不高的技術(shù)問題，其技術(shù)方案要點是將SLT測試軟件作為組件運行在待測SOC芯片的操作系統(tǒng)之上，與系統(tǒng)軟件解耦，方便移植。在SOC開發(fā)板的配合下，實現(xiàn)在芯片真實運行的軟硬件環(huán)境下進行SLT測試。本發(fā)明的SLT測試軟件的測試用例的實現(xiàn)是獨立開發(fā)的，測試用例的軟件實現(xiàn)人員不用修改SLT測試軟件的實現(xiàn)，單獨實現(xiàn)測試用例即可，保證軟件的穩(wěn)定性。并且單個測試用例內(nèi)部的bug不會導(dǎo)致整個SLT的測試卡死，保證軟件的健壯性。