一種用于校驗(yàn)器件精度的檢測(cè)裝置及測(cè)試儀

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201510973810.X 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN105466373B 公開(公告)日 2018-03-20
申請(qǐng)公布號(hào) CN105466373B 申請(qǐng)公布日 2018-03-20
分類號(hào) G01B21/00 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 王世林;尹柳;王世濤;賈坤勝 申請(qǐng)(專利權(quán))人 煙臺(tái)開發(fā)區(qū)精越達(dá)機(jī)械設(shè)備有限公司
代理機(jī)構(gòu) 煙臺(tái)雙聯(lián)專利事務(wù)所(普通合伙) 代理人 呂靜
地址 264006 山東省煙臺(tái)市開發(fā)區(qū)金沙江路157號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及機(jī)械測(cè)量領(lǐng)域,具體的說,涉及一種用于校驗(yàn)器件精度的檢測(cè)裝置及測(cè)試儀。檢測(cè)裝置固定在立板上,檢測(cè)裝置分為上下兩部分,上部包括位移測(cè)頭、位移測(cè)頭安裝板、固定在位移測(cè)頭安裝板上的上探頭,所述位移測(cè)頭通過位移測(cè)頭夾塊固定在位移測(cè)頭安裝板上,下部包括下探頭、位移頂塊,所述位移頂塊、下探頭均通過連接塊固定在立板上,所述上探頭與下探頭在垂直方向?qū)R,在上下探頭相對(duì)的表面分別設(shè)置有用于檢測(cè)測(cè)試機(jī)構(gòu)的上觸點(diǎn)、下觸點(diǎn)。通過傳感器與接觸塊的相對(duì)位移變化來測(cè)定斜盤厚度變化,減少傳感器的個(gè)數(shù),測(cè)試更為簡(jiǎn)潔、快速,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、檢測(cè)成本降低。