一種基于電壓積分法測試永磁電機電抗參數(shù)的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201010137824.5 申請日 -
公開（公告）號 CN101825685B 公開（公告）日 2013-01-02
申請公布號 CN101825685B 申請公布日 2013-01-02
分類號 G01R31/34(2006.01)I;G01R27/26(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王松;郭榮生;崔曉光 申請（專利權(quán)）人 杭州三峻控制技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 264209 山東省威海市文化西路180號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于電壓積分法測試永磁電機電抗參數(shù)的方法，首先通過永磁體磁場和電樞繞組產(chǎn)生的磁場的相互作用來調(diào)節(jié)轉(zhuǎn)子直、交軸與電樞繞組合成磁動勢方向重合，然后根據(jù)要測的直、交軸不同的電抗參數(shù)，對電機定子繞組選擇不同的接線方式，在線路達到電橋平衡的狀態(tài)下接通電壓采集設(shè)備，采集電壓信號的實時數(shù)據(jù)，接下來采用數(shù)值積分法對由電壓采集設(shè)備采集到的離散電壓信號進行積分，得到永磁電機的磁鏈參數(shù)，進而計算出永磁電機的電抗參數(shù)。本發(fā)明方法通過磁場的相互作用來調(diào)節(jié)轉(zhuǎn)子直軸或交軸與電樞繞組合成磁動勢方向重合以及通過電壓采集設(shè)備直接采集電壓信號的實時數(shù)據(jù)，解決了現(xiàn)有技術(shù)測量精度低的問題，測量精度高。