一種MOSFET終端結(jié)構(gòu)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202022093479.1 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN213071150U | 公開(公告)日 | 2021-04-27 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN213071150U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-04-27 |
分類號(hào) | H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 代萌;李承杰;顧嘉慶 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 上海格瑞寶電子有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京國昊天誠知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 林怡妏 |
地址 | 200135 上海市浦東新區(qū)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)盛夏路560號(hào)904室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型公開了一種MOSFET終端結(jié)構(gòu),包括終端分壓區(qū),所述終端分壓區(qū)內(nèi)設(shè)有若干的溝槽,所述終端分壓區(qū)的溝槽中靠近元胞區(qū)由內(nèi)向外所述溝槽深度逐漸加深,溝槽間距逐漸增大。與一般溝槽MOS終端結(jié)構(gòu)若干個(gè)分壓溝槽等深度等間距排列相比,本實(shí)用新型對(duì)終端分壓溝槽間距進(jìn)行調(diào)整,優(yōu)化電場(chǎng)分布,提升器件耐壓。終端溝槽中靠近元胞區(qū)由內(nèi)向外前幾個(gè)溝槽深度逐漸加深,溝槽間距逐漸增大,將原本外部截止環(huán)溝槽的大電場(chǎng),轉(zhuǎn)移至內(nèi)部分壓溝槽處,從而提升整個(gè)器件的擊穿電壓。從仿真結(jié)果來看,對(duì)于100V產(chǎn)品,擊穿電壓能得到20%左右的提升。 |
