一種時序星載雷達數(shù)據(jù)處理方法和裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610016363.3 申請日 -
公開（公告）號 CN105487065B 公開（公告）日 2017-06-20
申請公布號 CN105487065B 申請公布日 2017-06-20
分類號 G01S7/41(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張磊;丁曉利 申請（專利權(quán)）人 深圳市易簡空間技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 深圳中一專利商標(biāo)事務(wù)所 代理人 張全文
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)園南區(qū)粵興一道18號香港理工大學(xué)產(chǎn)學(xué)研大樓205
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及干涉測量技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種時序星載雷達數(shù)據(jù)處理方法和裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)中因相位誤差干擾而導(dǎo)致的基線估計的精確度不高，以及在利用InSAR技術(shù)分析海量雷達干涉數(shù)據(jù)時需對每一個干涉圖進行基線精化導(dǎo)致的效率低下的問題。所述方法包括：根據(jù)獲取的時序星載雷達數(shù)據(jù)，構(gòu)建時序干涉測量模型；根據(jù)時序干涉測量模型計算軌道誤差和高程誤差；基于軌道誤差和高程誤差重構(gòu)基線誤差相位，用于確定基線及基線的變化率。本發(fā)明的技術(shù)方案通過構(gòu)建能夠同時計算軌道誤差和高程誤差的時序干涉測量模型，實現(xiàn)從纏繞的雷達干涉相位中直接精確分離軌道誤差相位和高程誤差，并重構(gòu)基線誤差相位，從而提高基線估計的精確度和效率。