光模塊測試設備及其測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110051506.5 申請日 -
公開（公告）號 CN112816182A 公開（公告）日 2021-05-18
申請公布號 CN112816182A 申請公布日 2021-05-18
分類號 G01M11/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 徐俊松;李海堅;宋云鵬 申請（專利權）人 光為科技（廣州）有限公司
代理機構 廣州三環(huán)專利商標代理有限公司 代理人 張艷美;劉光明
地址 510000 廣東省廣州市黃埔區(qū)南翔一路68號第（2）棟二樓210、211、212房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種光模塊測試設備及其測試方法，其中光模塊測試設備包括加熱平臺、測試模組、鼠籠和導熱件；所述加熱平臺被配置為鋪放并加熱若干光模塊；所述測試模組間隔設置在所述加熱平臺的上方，所述測試模組用于對所述光模塊進行高溫測試；所述鼠籠通過所述導熱件安裝在所述加熱平臺上，所述鼠籠位于所述測試模組的正下方且與所述測試模組連接，所述鼠籠用于接收鋪放在所述加熱平臺上的待測試光模塊；所述導熱件用于將所述加熱平臺的溫度傳導至所述鼠籠和測試中的光模塊。由此可知，本發(fā)明能夠節(jié)省高溫測試工序逐一對每個光模塊加熱的時間，提高測試效率；而且，相比使用高低溫箱和溫沖箱，能夠有效減少設備體積。