光模塊測試設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202120102012.0 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN214149756U 公開（公告）日 2021-09-07
申請(qǐng)公布號(hào) CN214149756U 申請(qǐng)公布日 2021-09-07
分類號(hào) G01M11/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 徐俊松;李海堅(jiān);宋云鵬 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 光為科技（廣州）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 張艷美;劉光明
地址 510000廣東省廣州市黃埔區(qū)南翔一路68號(hào)第（2）棟二樓210、211、212房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種光模塊測試設(shè)備，其包括加熱平臺(tái)、測試模組、鼠籠和導(dǎo)熱件；所述加熱平臺(tái)被配置為鋪放并加熱若干光模塊；所述測試模組間隔設(shè)置在所述加熱平臺(tái)的上方，所述測試模組用于對(duì)所述光模塊進(jìn)行高溫測試；所述鼠籠通過所述導(dǎo)熱件安裝在所述加熱平臺(tái)上，所述鼠籠位于所述測試模組的正下方且與所述測試模組連接，所述鼠籠用于接收鋪放在所述加熱平臺(tái)上的待測試光模塊；所述導(dǎo)熱件用于將所述加熱平臺(tái)的溫度傳導(dǎo)至所述鼠籠和測試中的光模塊。由此可知，本實(shí)用新型能夠節(jié)省高溫測試工序逐一對(duì)每個(gè)光模塊加熱的時(shí)間，提高測試效率；而且，相比使用高低溫箱和溫沖箱，能夠有效減少設(shè)備體積。