一種制備高品質(zhì)碳化硅晶體生長裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202120505423.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN214830782U | 公開(公告)日 | 2021-11-23 |
申請公布號 | CN214830782U | 申請公布日 | 2021-11-23 |
分類號 | C30B29/36(2006.01)I;C30B23/00(2006.01)I | 分類 | 晶體生長〔3〕; |
發(fā)明人 | 高冰;李俊;葉宏亮 | 申請(專利權(quán))人 | 浙江晶越半導(dǎo)體有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 杭州六方于義專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 施少鋒 |
地址 | 312451浙江省紹興市嵊州市浦口街道浦南大道368號9號廠房二樓202室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型公開了一種制備高品質(zhì)碳化硅晶體生長裝置,包括用于碳化硅晶體生長的坩堝,坩堝的上部圍有上加熱結(jié)構(gòu),坩堝的下部圍有下加熱結(jié)構(gòu),上加熱結(jié)構(gòu)包括上部感應(yīng)線圈,下加熱結(jié)構(gòu)包括下部感應(yīng)線圈,上感應(yīng)線圈,上部感應(yīng)線圈的線圈直徑和匝數(shù)均大于下部感應(yīng)線圈的線圈直徑和匝數(shù)。為了滿足大尺寸晶體生長工藝溫度要求,通過使用上下2種不同規(guī)格線圈來控制長晶溫度,使坩堝上下具有均勻的橫向溫度及縱向溫度梯度,從而提高碳化硅晶體生長的穩(wěn)定性。 |
