晶體振蕩器自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202020533777.5 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN212568972U | 公開（公告）日 | 2021-02-19 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN212568972U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-02-19 |
| 分類號(hào) | G01R31/00(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 楊宏斌;王曉光;蘇玲玲;董秦博;苗濤濤;虞帆 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 西安西谷微電子有限責(zé)任公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京東靈通專利代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 李思瓊 |
| 地址 | 710000陜西省西安市高新區(qū)錦業(yè)路69號(hào)創(chuàng)業(yè)園A區(qū)12號(hào)現(xiàn)代企業(yè)中心東區(qū)2-10402 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型涉及電子元器件測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種晶體振蕩器自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，其包括計(jì)算機(jī)，所述計(jì)算機(jī)上連接程控電源、頻率計(jì)和萬用表，所述程控電源與頻率計(jì)、萬用表之間串接測(cè)試板；所述計(jì)算機(jī)上運(yùn)行晶體振蕩自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)軟件，同時(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、顯示；所述程控電源通過COM1口與計(jì)算機(jī)相連，接收計(jì)算機(jī)發(fā)來的控制信號(hào)，為晶體振蕩器提供電源；所述頻率計(jì)用于對(duì)頻率，占空比，輸出高電平，輸出低電平，上升時(shí)間，下降時(shí)間的測(cè)量；所述萬用表用于靜態(tài)電流的精確測(cè)量。本實(shí)用新型能有效的減少過程出錯(cuò)率，解決現(xiàn)有測(cè)試系統(tǒng)不能自動(dòng)進(jìn)行批量測(cè)試，測(cè)試效率受限的技術(shù)問題。?? |
