測(cè)試裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202020533765.2 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN211977969U | 公開(kāi)（公告）日 | 2020-11-20 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN211977969U | 申請(qǐng)公布日 | 2020-11-20 |
| 分類號(hào) | G01D18/00(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 黃菊蓮;牟云飛;吳海平;張少波;閆欣;劉偉鋒 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 西安西谷微電子有限責(zé)任公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京東靈通專利代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 西安西谷微電子有限責(zé)任公司 |
| 地址 | 710000陜西省西安市高新區(qū)錦業(yè)路69號(hào)創(chuàng)業(yè)園A區(qū)12號(hào)現(xiàn)代企業(yè)中心東區(qū)2-10402 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種測(cè)試裝置，涉及電器件參數(shù)的測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，為解決現(xiàn)有技術(shù)中，測(cè)試裝置存在的設(shè)備及人力成本高的技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下：包括測(cè)試控制器、提示裝置、ATE測(cè)試機(jī)及測(cè)試開(kāi)發(fā)板；所述測(cè)試控制器的輸出端與提示裝置的輸入端連接，輸入/輸出端與ATE測(cè)試機(jī)的輸入端連接，所述ATE測(cè)試機(jī)的輸入端與測(cè)試開(kāi)發(fā)板的輸出端連接，所述測(cè)試開(kāi)發(fā)板的測(cè)試端與待測(cè)器件連接，并向所述待測(cè)器件發(fā)送測(cè)試信號(hào)，所述ATE測(cè)試機(jī)通過(guò)測(cè)試開(kāi)發(fā)板再接收待測(cè)器件的反饋信號(hào)，并將反饋信號(hào)發(fā)送至測(cè)試控制器，所述測(cè)試控制器根據(jù)預(yù)設(shè)信號(hào)值判斷反饋信號(hào)是否符合，并驅(qū)動(dòng)所述提示裝置發(fā)出當(dāng)前測(cè)試結(jié)果。?? |
