測量光學(xué)透鏡中心厚度的裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200620125116.9 申請日 -
公開（公告）號 CN200968843Y 公開（公告）日 2007-10-31
申請公布號 CN200968843Y 申請公布日 2007-10-31
分類號 G01B5/06(2006.01);G01M11/02(2006.01) 分類 測量；測試;
發(fā)明人 徐媛;李艷;吳憲正;孟陳燕 申請（專利權(quán)）人 南通新宇光學(xué)電子有限公司
代理機構(gòu) 南通市科偉專利事務(wù)所有限公司 代理人 南通新宇光學(xué)電子有限公司
地址 226404江蘇省如東縣雙甸鎮(zhèn)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種測量光學(xué)透鏡中心厚度的裝置，包括底座，底座上裝立桿，立桿上裝可上下移動的表座，表座上裝千分表，千分表下方設(shè)置與底座固定連接的測量立柱，且千分表的測量頭和測量立柱的尖頭對齊在同一中心線上，測量立柱上套裝彈簧，測量立柱上部套裝放置被測鏡片的冶具。本實用新型結(jié)構(gòu)合理，檢測準確，精度高，檢測速度快，有效防止鏡片的劃傷。