采用PSG摻雜技術(shù)的VDMOS、IGBT功率器件及其制造工藝
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN200710037559.1 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN100477270C | 公開(公告)日 | 2009-04-08 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN100477270C | 申請(qǐng)公布日 | 2009-04-08 |
分類號(hào) | H01L29/78(2006.01)I;H01L29/739(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L21/331(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 邵光平 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 上海富華微電子有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海京滬專利代理事務(wù)所 | 代理人 | 上海富華微電子有限公司;吉林華微電子股份有限公司 |
地址 | 200122上海市浦東新區(qū)東方路971號(hào)錢江大廈14樓H座 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種采用PSG摻雜技術(shù)的VDMOS、IGBT功率器件及其制造工藝,屬于微電子技術(shù)領(lǐng)域,由金屬底層、N+襯底層(在IGBT功率器件中為P+襯底層)、N-外延層、P-區(qū)、P+區(qū)、N+區(qū)、熱氧化SiO2柵氧層、多晶硅柵層、源柵隔離層和金屬表層組成。由磷硅玻璃PSG層以單層的形式充任源柵隔離層,取代現(xiàn)有技術(shù)中由SiO2層和PSG層組合的結(jié)構(gòu)形式,且磷硅玻璃PSG層作為生成N+區(qū)時(shí)的摻雜源,利用其中的磷向硅中的擴(kuò)散形成N+區(qū),從而有效減少了生產(chǎn)過程中光刻等處理的工序,既有利于降低生產(chǎn)成本、又有利于大幅度提高VDMOS、IGBT功率器件的工作可靠性,具有極強(qiáng)的實(shí)用性和經(jīng)濟(jì)性。 |
