光學(xué)鄰近校正方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN200910194449.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN101995763B | 公開(公告)日 | 2012-04-18 |
申請公布號 | CN101995763B | 申請公布日 | 2012-04-18 |
分類號 | G03F1/36(2012.01)I | 分類 | 攝影術(shù);電影術(shù);利用了光波以外其他波的類似技術(shù);電記錄術(shù);全息攝影術(shù)〔4〕; |
發(fā)明人 | 周從樹 | 申請(專利權(quán))人 | 上海高力電纜附件有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 上海宏力半導(dǎo)體制造有限公司;國家電網(wǎng)公司;上海市電力公司上海高力電纜附件有限公司 |
地址 | 201203 上海市浦東張江高科技園區(qū)祖沖之路1399號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種光學(xué)鄰近校正方法,包括:根據(jù)光學(xué)衍射原理對設(shè)計圖形進行修正以獲得期望圖形;根據(jù)掩模版圖形,獲得對應(yīng)的曝光圖形;獲取所述曝光圖形中的圖案與所述期望圖形中相應(yīng)圖案的差異;將所獲得的差異與預(yù)定閾值進行比較:當(dāng)所述差異小于或等于預(yù)定閾值時,光學(xué)鄰近校正完成;當(dāng)所述差異大于預(yù)定閾值時,調(diào)整掩模版圖形,并對新的掩模版圖形重新執(zhí)行上述曝光、計算和比較的步驟,直至光學(xué)鄰近校正完成。本發(fā)明縮短了光學(xué)鄰近校正的時間,提高了生產(chǎn)效率。 |
