一種基于CCD探測器的光學(xué)材料折射率測量裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201620424375.5 申請日 -
公開（公告）號 CN205749281U 公開（公告）日 2016-11-30
申請公布號 CN205749281U 申請公布日 2016-11-30
分類號 G01N21/45(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張啟龍 申請（專利權(quán)）人 揚州維姆科技有限公司
代理機構(gòu) 長沙星耀專利事務(wù)所 代理人 揚州維姆科技有限公司
地址 225600 江蘇省揚州市高郵市經(jīng)濟開發(fā)區(qū)科技創(chuàng)業(yè)中心
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種基于CCD探測器的光學(xué)材料折射率測量裝置，包括水平導(dǎo)軌、設(shè)置在水平導(dǎo)軌上的滑塊、水平基臺、長方體的標準樣品和與所述標準樣品形狀尺寸相同的被測樣品；所述滑塊上設(shè)有第一激光器、第二激光器和第三激光器，所述第一、二、三激光器發(fā)出兩兩互不相同的單色光，所述第一、二、三激光器發(fā)出的光平行，所述基臺上設(shè)有第一CCD探測器和第二CCD探測器；當(dāng)滑塊在第一位置時，第一CCD探測器上形成三個光斑；當(dāng)滑塊在第二位置時，第二CCD探測器上形成三個光斑。本實用新型的裝置使用方便，測量準確。