高可靠性圖像傳感器晶圓級扇出封裝結(jié)構(gòu)及方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202010393193.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN111354652B | 公開(公告)日 | 2022-03-08 |
申請公布號 | CN111354652B | 申請公布日 | 2022-03-08 |
分類號 | H01L21/56(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I;H01L27/146(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 馬書英;王姣;宋昆樹 | 申請(專利權(quán))人 | 華天科技(昆山)電子有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 蘇州國誠專利代理有限公司 | 代理人 | 馬振華 |
地址 | 215300江蘇省蘇州市昆山市經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)龍騰路112號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供一種高可靠性圖像傳感器晶圓級扇出封裝結(jié)構(gòu)及方法,其中,所述高可靠性圖像傳感器晶圓級扇出封裝結(jié)構(gòu)包括:基板;CIS芯片,其感光區(qū)域面向所述基板的一面設(shè)置,并通過所述感光區(qū)域周圍的區(qū)域與所述基板的一面相連接,所述CIS芯片與基板焊接處的縫隙通過避光材料進(jìn)行密封,所述CIS的背面和側(cè)面由塑封層進(jìn)行整體塑封;焊球,其設(shè)置于所述塑封層的表面,所述基板的RDL層通過形成于所述塑封層上的通孔扇出至所述塑封層的表面,并與所述焊球相連接。本發(fā)明的高可靠性圖像傳感器晶圓級扇出封裝結(jié)構(gòu)既解決了晶圓級封裝因芯片尺寸小型化但是功能集成化導(dǎo)致RDL無法布線的問題,又能解決傳統(tǒng)基板扇出工藝的高成本和低產(chǎn)出的問題。 |
