量子電路的故障仿真方法、系統(tǒng)、存儲(chǔ)介質(zhì)和電子設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202210352824.X 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN114429096B 公開(公告)日 2022-06-24
申請(qǐng)公布號(hào) CN114429096B 申請(qǐng)公布日 2022-06-24
分類號(hào) G06F30/33;G06N10/20 分類 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù);
發(fā)明人 官極;黃鳴宇;應(yīng)明生 申請(qǐng)(專利權(quán))人 中國(guó)科學(xué)院軟件研究所
代理機(jī)構(gòu) 北京輕創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 陳熙
地址 100086 北京市海淀區(qū)知春路甲48號(hào)3號(hào)樓4層1單元5C
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及量子電路故障仿真技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種量子電路的故障仿真方法、系統(tǒng)、存儲(chǔ)介質(zhì)和電子設(shè)備,方法包括:獲取待測(cè)試故障量子電路所對(duì)應(yīng)的超算子,并獲取超算子中的每個(gè)邏輯超算子所分別對(duì)應(yīng)的Kraus矩陣集合;遍歷選取每個(gè)Kraus矩陣集合中的每個(gè)Kraus矩陣,得到多個(gè)張量網(wǎng)絡(luò)收縮,然后計(jì)算待測(cè)試故障量子電路中的故障的故障影響率。通過將待測(cè)試故障量子電路表示為多個(gè)Kraus矩陣集合,能夠編碼到在一組張量網(wǎng)絡(luò)中,張量網(wǎng)絡(luò)的收縮計(jì)算效率高,能夠快速計(jì)算張量網(wǎng)絡(luò)收縮,從而能夠在很短的時(shí)間內(nèi)完成故障仿真,且能夠模擬大小超過5000個(gè)量子比特的故障量子電路,可滿足NISQ時(shí)代的應(yīng)用。