具有背景失配校準(zhǔn)的噪聲整形SARADC

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111457615.3 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN114124100A 公開(kāi)（公告）日 2022-03-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN114124100A 申請(qǐng)公布日 2022-03-01
分類號(hào) H03M3/00（2006.01）I 分類 基本電子電路;
發(fā)明人 張翼;高昊;劉依樺;劉雅琴;莊宇航;姚佳飛;張瑛;蔡志匡;肖建;郭宇鋒 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 南京郵電大學(xué)南通研究院有限公司
代理機(jī)構(gòu) 南京正聯(lián)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王素琴
地址 226000江蘇省南通市港閘區(qū)新康路33號(hào)云院9、10幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種具有背景失配校準(zhǔn)的噪聲整形SAR ADC，屬于集成電路技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明所采用的SAR ADC架構(gòu)類似于通用SAR ADC，結(jié)構(gòu)包括采樣和保持（S/H）模塊、二進(jìn)制加權(quán)電容式DAC（CDAC）、SAR邏輯塊、比較器和數(shù)字加法器；所呈現(xiàn)的拓?fù)渑c通用SAR ADC的不同之處在于，它嵌入了兩個(gè)附加模塊：噪聲整形和DAC校準(zhǔn)模塊。偶爾激活的校準(zhǔn)模塊能夠通過(guò)使用一組子DAC的機(jī)制執(zhí)行DAC失配校準(zhǔn)；在典型的SAR轉(zhuǎn)換中通常被丟棄的殘差信息Vresidue則被NS塊重新使用，從而可以改變帶內(nèi)比較器噪聲和量化噪聲。本發(fā)明將NS?SAR與新的背景校準(zhǔn)相結(jié)合，同時(shí)結(jié)合了ΣΔ和SAR架構(gòu)的優(yōu)點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)了高精度低功耗架構(gòu)，并且克服了比較器噪聲和DAC失配誤差對(duì)電路的限制。