一種基于400G光模塊的測試電路

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202023207788.3 申請日 -
公開（公告）號 CN214154518U 公開（公告）日 2021-09-07
申請公布號 CN214154518U 申請公布日 2021-09-07
分類號 H04B10/07（2013.01）I 分類 電通信技術(shù);
發(fā)明人 呂利平 申請（專利權(quán)）人 上海劍橋科技股份有限公司
代理機構(gòu) 上海港慧專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 卞小婷
地址 201114上海市閔行區(qū)陳行公路2388號8幢501室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種基于400G光模塊的測試電路，其中：包括，生產(chǎn)測試板；待測光模塊；插接入所述生產(chǎn)測試板的第一預(yù)定位置處；校準(zhǔn)光模塊，插接入所述生產(chǎn)測試板的第二預(yù)定位置處，控制所述校準(zhǔn)光模塊工作于偽隨機碼產(chǎn)生和誤碼檢測模式；其中第一預(yù)定位置設(shè)置于第二預(yù)定位置的背部；高速光纖線組，連接于所述待測光模塊和所述校準(zhǔn)光模塊之間。