一種半導體封裝結構
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202220122206.1 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN216671601U | 公開(公告)日 | 2022-06-03 |
申請公布號 | CN216671601U | 申請公布日 | 2022-06-03 |
分類號 | H01L23/12(2006.01)I;H01L23/16(2006.01)I;H01L23/498(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 尹鵬躍;陳曉強;陳桂芳;田佳;劉艷菲 | 申請(專利權)人 | 上海燧原科技有限公司 |
代理機構 | 北京品源專利代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 201306上海市浦東新區(qū)中國(上海)自由貿(mào)易試驗區(qū)臨港新片區(qū)業(yè)盛路188號A-522室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型公開了一種半導體封裝結構,包括:封裝基板;多個倒裝凸點,設置于封裝基板上,與封裝基板中的第一金屬層電連接;倒裝凸點之間的間隙設置有填充層;重布線層,設置于倒裝凸點遠離封裝基板的一側;重布線層包括多層第二金屬層;相鄰第二金屬層之間,以及重布線層的兩側均設置有絕緣層;至少一個芯片,設置于重布線層遠離封裝基板的一側;重布線層用于實現(xiàn)芯片和倒裝凸點之間的電連接。本實用新型實施例提供的半導體封裝結構,在各倒裝凸點之間設置填充層,填充層的存在能夠減少半導體封裝結構膜層間的錯位現(xiàn)象,提高半導體封裝結構內(nèi)各膜層的連接可靠性,從而提升半導體封裝結構生產(chǎn)效率及良率。 |
