一種水稻紋枯病識別方法、系統(tǒng)、設備及介質(zhì)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111492501.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114199800A | 公開(公告)日 | 2022-03-18 |
申請公布號 | CN114199800A | 申請公布日 | 2022-03-18 |
分類號 | G01N21/31(2006.01)I;G01N21/55(2014.01)I;G01N21/84(2006.01)I;G06N20/10(2019.01)I;G06V20/10(2022.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 付強;田冰川;龍曉波;清毅;劉京;趙健;尹合興 | 申請(專利權(quán))人 | 華智生物技術(shù)有限公司 |
代理機構(gòu) | 廣州嘉權(quán)專利商標事務所有限公司 | 代理人 | 馬俊 |
地址 | 410000湖南省長沙市芙蓉區(qū)合平路618號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種水稻紋枯病識別方法、系統(tǒng)、設備及介質(zhì),步驟包括:獲取水稻的原始高光譜數(shù)據(jù)并進行標準化處理,然后計算一階微分光譜特征和連續(xù)統(tǒng)去除特征,根據(jù)植被指數(shù)計算指數(shù)特征,將以上特征分別與紋枯病不同染病程度進行相關(guān)性分析并結(jié)合閾值法選取出第一光譜特征集,根據(jù)獨立樣本T檢驗方法篩選出以上在不同染病程度的作物樣本中呈現(xiàn)顯著差異的第二光譜特征集,從第一光譜特征集與第二光譜特征集中取交集得到最優(yōu)光譜特征集,將最優(yōu)光譜特征集輸入支持向量機模型得到識別結(jié)果,通過識別結(jié)果評估水稻品種紋枯病抗病程度,以快速、無損的方式完成紋枯病發(fā)病調(diào)查,并解決了人工田間調(diào)查數(shù)據(jù)冗余度高、主觀性高與監(jiān)測精度差的缺陷。 |
