基于光纖的磁場(chǎng)強(qiáng)度檢測(cè)裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111061807.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113933763A 公開（公告）日 2022-01-14
申請(qǐng)公布號(hào) CN113933763A 申請(qǐng)公布日 2022-01-14
分類號(hào) G01R33/032（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 劉翡瓊 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 西安柯萊特信息科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 710119陜西省西安市高新區(qū)高新6路立人科技園1幢1單元10401-276室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)涉及基于光纖的磁場(chǎng)強(qiáng)度檢測(cè)裝置，具體而言，涉及磁場(chǎng)檢測(cè)領(lǐng)域。本申請(qǐng)?zhí)峁┑幕诠饫w的磁場(chǎng)強(qiáng)度檢測(cè)裝置，裝置包括：第一光纖、第二光纖、第三光纖、超磁致伸縮部；光線從第一光纖進(jìn)入第二光纖，由于第二光纖為空心光纖，光線將在第二光纖內(nèi)部干涉，之后干涉的光線通過第三光纖輸出，當(dāng)需要對(duì)磁場(chǎng)強(qiáng)度進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，黏附在第二光纖的超磁致伸縮部在磁場(chǎng)的作用下將帶動(dòng)第二光纖產(chǎn)生形變，形變具體表現(xiàn)為第二光纖的縱向拉伸和橫向擴(kuò)張，通過對(duì)透射光譜的檢測(cè)就能到得出磁致伸縮材料的形變情況，從而得出磁場(chǎng)強(qiáng)度。