一種二維材料溫度檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111187268.7 申請日 -
公開（公告）號 CN114001838A 公開（公告）日 2022-02-01
申請公布號 CN114001838A 申請公布日 2022-02-01
分類號 G01K7/01（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 吉鵬勃;劉翡瓊 申請（專利權(quán)）人 西安柯萊特信息科技有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 710119陜西省西安市高新區(qū)高新6路立人科技園1幢1單元10401-276室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及溫度檢測技術(shù)領域，具體提供了一種二維材料溫度檢測裝置，包括從下到上依次設置的底電極層、半導體層、二維材料層以及敏感層；敏感層為由周期性排布的敏感單元組成；敏感單元包括第一金屬條、第二金屬條、敏感材料塊；敏感材料塊設置在第一金屬條和第二金屬條之間；二維材料層與底電極層通過外電路連接。當溫度改變時，敏感材料塊發(fā)生形變，導致穿過二維材料層與半導體層界面處的肖特基勢壘、到達半導體層的熱電子數(shù)量不同，通過測量外電路中電流的強度實現(xiàn)溫度探測。由于金屬的之間的距離對光的吸收影響嚴重，所以該探測器探測準確度和靈敏度極高。