一種溫度的探測(cè)裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111024376.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113932935A 公開（公告）日 2022-01-14
申請(qǐng)公布號(hào) CN113932935A 申請(qǐng)公布日 2022-01-14
分類號(hào) G01K5/58（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 吉鵬勃 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 西安柯萊特信息科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 710119陜西省西安市高新區(qū)高新6路立人科技園1幢1單元10401-276室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于溫度探測(cè)領(lǐng)域，特別是涉及一種溫度的探測(cè)裝置，包括底電極層、半導(dǎo)體材料層、金屬單元、熱膨脹材料塊、金屬塊，半導(dǎo)體材料層設(shè)置在底電極層上，金屬單元呈周期性陣列排布設(shè)置在半導(dǎo)體材料層上，金屬單元上設(shè)置有缺口，熱膨脹材料塊設(shè)置在缺口，金屬塊設(shè)置在熱膨脹材料塊上。金屬單元產(chǎn)生的熱電子穿過金屬與半導(dǎo)體界面處的肖特基勢(shì)壘，轉(zhuǎn)移到半導(dǎo)體材料層中，進(jìn)而被底電極層收集，形成光電流。當(dāng)溫度改變時(shí)，熱膨脹材料塊發(fā)生膨脹，對(duì)光的吸收發(fā)生改變，導(dǎo)致產(chǎn)生的熱電子的數(shù)量改變。通過光電流的改變實(shí)現(xiàn)溫度的探測(cè)。裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，更有利于在特殊環(huán)境下使用，探測(cè)的精度高，體積小，方便集成。