一種利用生長函數(shù)曲線表征漏點(diǎn)全生命周期內(nèi)的發(fā)展?fàn)顟B(tài)的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810667952.7 申請日 -
公開（公告）號 CN109101679A 公開（公告）日 2018-12-28
申請公布號 CN109101679A 申請公布日 2018-12-28
分類號 G06F17/50 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 劉書明;郭冠呈;吳雪;仲麗娟;賈代林;孫立瑾 申請（專利權(quán)）人 成都市興蓉環(huán)境股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京眾合誠成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 清華大學(xué);成都市興蓉環(huán)境股份有限公司
地址 100084 北京市海淀區(qū)100084-82信箱
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提出一種利用生長函數(shù)曲線表征漏點(diǎn)全生命周期內(nèi)的發(fā)展?fàn)顟B(tài)的方法，生長函數(shù)曲線包括靜默期、緩慢期、增長期、穩(wěn)定期；生長函數(shù)曲線上的點(diǎn)包括技術(shù)不可探漏點(diǎn)、初始漏點(diǎn)、發(fā)展漏點(diǎn)、極值漏點(diǎn)、漏點(diǎn)拐點(diǎn)；漏點(diǎn)的全生命周期內(nèi)的發(fā)展?fàn)顟B(tài)包括背景漏點(diǎn)、暗漏點(diǎn)、明漏點(diǎn)，生長函數(shù)曲線上處于靜默期的技術(shù)不可探漏點(diǎn)為背景漏點(diǎn)，處于緩慢期、增長期、穩(wěn)定期的初始漏點(diǎn)、發(fā)展漏點(diǎn)、漏點(diǎn)拐點(diǎn)，如果在某個(gè)時(shí)刻未被探測到則為背景漏點(diǎn)，如果在某個(gè)時(shí)刻被探測到則為暗漏點(diǎn)；生長函數(shù)曲線上處于穩(wěn)定期的極值漏點(diǎn)之后的漏點(diǎn)為明漏點(diǎn)。本發(fā)明利用生長函數(shù)確定漏點(diǎn)在不同時(shí)段內(nèi)的漏失水量，能夠更加有效的指導(dǎo)水平衡分析。