一種利用生長函數(shù)曲線表征漏點全生命周期內的發(fā)展狀態(tài)的方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201810667952.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN109101679A | 公開(公告)日 | 2018-12-28 |
申請公布號 | CN109101679A | 申請公布日 | 2018-12-28 |
分類號 | G06F17/50 | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 劉書明;郭冠呈;吳雪;仲麗娟;賈代林;孫立瑾 | 申請(專利權)人 | 成都市興蓉環(huán)境股份有限公司 |
代理機構 | 北京眾合誠成知識產(chǎn)權代理有限公司 | 代理人 | 清華大學;成都市興蓉環(huán)境股份有限公司 |
地址 | 100084 北京市海淀區(qū)100084-82信箱 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提出一種利用生長函數(shù)曲線表征漏點全生命周期內的發(fā)展狀態(tài)的方法,生長函數(shù)曲線包括靜默期、緩慢期、增長期、穩(wěn)定期;生長函數(shù)曲線上的點包括技術不可探漏點、初始漏點、發(fā)展漏點、極值漏點、漏點拐點;漏點的全生命周期內的發(fā)展狀態(tài)包括背景漏點、暗漏點、明漏點,生長函數(shù)曲線上處于靜默期的技術不可探漏點為背景漏點,處于緩慢期、增長期、穩(wěn)定期的初始漏點、發(fā)展漏點、漏點拐點,如果在某個時刻未被探測到則為背景漏點,如果在某個時刻被探測到則為暗漏點;生長函數(shù)曲線上處于穩(wěn)定期的極值漏點之后的漏點為明漏點。本發(fā)明利用生長函數(shù)確定漏點在不同時段內的漏失水量,能夠更加有效的指導水平衡分析。 |
