芯片檢測設備
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202110689559.X | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN113399304A | 公開（公告）日 | 2021-09-17 |
| 申請公布號 | CN113399304A | 申請公布日 | 2021-09-17 |
| 分類號 | B07C5/342（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I;B07C5/02（2006.01）I | 分類 | 將固體從固體中分離；分選; |
| 發(fā)明人 | 王康;朱鐵丁 | 申請（專利權）人 | 上海金東唐科技有限公司 |
| 代理機構 | 北京超凡宏宇專利代理事務所（特殊普通合伙） | 代理人 | 張偉 |
| 地址 | 200082上海市楊浦區(qū)長陽路2588號電力研究中心大樓602、603A室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種芯片檢測設備，涉及芯片檢測技術領域，本發(fā)明提供的芯片檢測設備，包括：上下料緩存機構、料盤轉移機構、識別抓取機構和機架；上下料緩存機構、料盤轉移機構和識別抓取機構分別安裝于機架上；上下料緩存機構位于識別抓取機構的抓取區(qū)域內，且上下料緩存機構具有上料區(qū)和分料區(qū)；料盤轉移機構用于將料盤自上下料緩存機構的上料區(qū)移動至分料區(qū)。本發(fā)明提供的芯片檢測設備，可以替代人工實現高效取料，相較于人工操作速度更快，提高了芯片檢測效率。 |
