芯片檢測(cè)設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110689559.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113399304A 公開(kāi)（公告）日 2021-09-17
申請(qǐng)公布號(hào) CN113399304A 申請(qǐng)公布日 2021-09-17
分類號(hào) B07C5/342（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I;B07C5/02（2006.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 王康;朱鐵丁 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海金東唐科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 張偉
地址 200082上海市楊浦區(qū)長(zhǎng)陽(yáng)路2588號(hào)電力研究中心大樓602、603A室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種芯片檢測(cè)設(shè)備，涉及芯片檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，本發(fā)明提供的芯片檢測(cè)設(shè)備，包括：上下料緩存機(jī)構(gòu)、料盤(pán)轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)、識(shí)別抓取機(jī)構(gòu)和機(jī)架；上下料緩存機(jī)構(gòu)、料盤(pán)轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)和識(shí)別抓取機(jī)構(gòu)分別安裝于機(jī)架上；上下料緩存機(jī)構(gòu)位于識(shí)別抓取機(jī)構(gòu)的抓取區(qū)域內(nèi)，且上下料緩存機(jī)構(gòu)具有上料區(qū)和分料區(qū)；料盤(pán)轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)用于將料盤(pán)自上下料緩存機(jī)構(gòu)的上料區(qū)移動(dòng)至分料區(qū)。本發(fā)明提供的芯片檢測(cè)設(shè)備，可以替代人工實(shí)現(xiàn)高效取料，相較于人工操作速度更快，提高了芯片檢測(cè)效率。