一種閃存器的擦除驗證設(shè)備和方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201810967997.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN109273039B | 公開(公告)日 | 2019-01-25 |
申請公布號 | CN109273039B | 申請公布日 | 2019-01-25 |
分類號 | G11C16/34(2006.01)I;G11C16/14(2006.01)I | 分類 | - |
發(fā)明人 | 梁軻;侯春源 | 申請(專利權(quán))人 | 長存創(chuàng)芯(上海)集成電路有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京派特恩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 長江存儲科技有限責任公司 |
地址 | 430074湖北省武漢市洪山區(qū)東湖開發(fā)區(qū)關(guān)東科技工業(yè)園華光大道18號7018室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明實施例公開了一種閃存器的擦除驗證設(shè)備和方法,其中,所述閃存器的擦除驗證設(shè)備包括:控制器,處理器和接口,其中:所述控制器,用于通過所述接口獲取擦除脈沖;所述處理器,用于基于所述擦除脈沖對存儲陣列的頂部選擇柵陣列的第i個存儲串進行第一擦除驗證;所述處理器,還用于若頂部選擇柵陣列的第i個存儲串的第一擦除驗證失敗,對所述頂部選擇柵陣列的第i個存儲串進行第二擦除驗證;其中,所述第二擦除驗證的電壓大于所述第一擦除驗證的電壓。?? |
