閃存芯片的性能測試方法、裝置、設備及存儲介質(zhì)
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201711384655.3 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN108133732B | 公開（公告）日 | 2021-05-25 |
| 申請公布號 | CN108133732B | 申請公布日 | 2021-05-25 |
| 分類號 | G11C29/56(2006.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 劉凱 | 申請（專利權(quán)）人 | 北京京存技術有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京品源專利代理有限公司 | 代理人 | 孟金喆 |
| 地址 | 100083 北京市海淀區(qū)學院路30號科大天工大廈A座12層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種閃存芯片的性能測試方法、裝置、設備及存儲介質(zhì)。該方法包括：基于預設的選取規(guī)則選取閃存芯片的性能測試樣本，根據(jù)性能測試樣本對閃存芯片進行編程/擦除測試；當檢測到編程/擦除測試完成時，根據(jù)性能測試樣本對閃存芯片進行讀干擾測試；當檢測到讀干擾測試完成時，根據(jù)性能測試樣本對閃存芯片進行數(shù)據(jù)保留測試。本發(fā)明實施例的技術方案，解決了現(xiàn)有技術中沒有統(tǒng)一的閃存性能測試流程的問題，實現(xiàn)了便捷地實現(xiàn)閃存性能的測試的效果。?? |
