一種SMD二極管電性能測試座

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022594816.5 申請日 -
公開（公告）號 CN214150794U 公開（公告）日 2021-09-07
申請公布號 CN214150794U 申請公布日 2021-09-07
分類號 G01R1/04（2006.01）I;G01R31/26（2014.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 汪良恩;楊華;田長亮 申請（專利權(quán)）人 安徽安美半導(dǎo)體有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海華誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 陳國俊
地址 247100安徽省池州市經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)富安電子信息產(chǎn)業(yè)園10號廠房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種SMD二極管電性能測試座，涉及半導(dǎo)體封裝制造領(lǐng)域，包括底座，底座設(shè)置第一安裝塊和第二安裝塊，第二安裝塊設(shè)置缺口，缺口內(nèi)前后對稱間隔設(shè)置兩個銅塊，兩個銅塊的相對面均為臺階面，臺階面包括臺階面左段和臺階面中段，兩個銅塊的臺階面左段的間距與SMA二極管的長度匹配，臺階面中段的間距與SMB二極管的長度匹配，第二安裝塊內(nèi)設(shè)置兩個導(dǎo)電連接管，兩個導(dǎo)電連接管的左端分別與兩個銅塊連接、右端設(shè)置在第二安裝塊外部，導(dǎo)電連接管的右端設(shè)置插槽，第一安裝塊設(shè)置按壓裝置。本實用新型能夠解決對不同類型的SMD二極管進(jìn)行電性能測試需要反復(fù)更換電性能測試座導(dǎo)致測試效率較低和易測試失敗的問題。