一種QFN芯片高溫測試自動出入料機(jī)構(gòu)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021879740.4 申請日 -
公開(公告)號 CN212322953U 公開(公告)日 2021-01-08
申請公布號 CN212322953U 申請公布日 2021-01-08
分類號 H01L21/66(2006.01)I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 艾兵 申請(專利權(quán))人 上海贏朔電子科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海兆豐知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(有限合伙) 代理人 上海贏朔電子科技股份有限公司
地址 201700上海市青浦區(qū)青浦工業(yè)園區(qū)久遠(yuǎn)路389號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種QFN芯片高溫測試自動出入料機(jī)構(gòu),包括底座以及設(shè)置在底座上的入口加熱軌道、入口材料轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)、定位機(jī)構(gòu)、芯片搬運(yùn)機(jī)構(gòu)、高溫測試機(jī)構(gòu)、不良品排出機(jī)構(gòu)和出料軌道,芯片搬運(yùn)機(jī)構(gòu)包括單軸驅(qū)動器、單軸驅(qū)動器馬達(dá)、縱向滑軌、下壓馬達(dá)固定板、兩個搬運(yùn)支架和四個下壓馬達(dá);出料軌道和入口加熱軌道分設(shè)在縱向滑軌的左右側(cè);入口材料轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)設(shè)置在入口加熱軌道的末端;定位機(jī)構(gòu)與所述入口材料轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)相鄰設(shè)置;不良品排出機(jī)構(gòu)和高溫測試機(jī)構(gòu)一一對應(yīng)地設(shè)置在縱向滑軌的前后端。本實(shí)用新型的QFN芯片高溫測試自動出入料機(jī)構(gòu),可以完成QFN芯片的高溫測試,操作簡便,減少操作工序,提高了生產(chǎn)效率。??