一種用于混合現(xiàn)實(shí)設(shè)備的空間測(cè)距方法和系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201710037828.8 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN106842219B 公開(kāi)（公告）日 2019-10-29
申請(qǐng)公布號(hào) CN106842219B 申請(qǐng)公布日 2019-10-29
分類號(hào) G01S17/08 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 李劼 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京商詢科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京輕創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 北京商詢科技有限公司
地址 100085 北京市海淀區(qū)上地東路1號(hào)院1號(hào)樓401-B086
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種用于混合現(xiàn)實(shí)設(shè)備的空間測(cè)距方法和系統(tǒng)，該方法包括以下步驟：選擇待測(cè)物體；選擇所述待測(cè)物體上的任一點(diǎn)作為參照點(diǎn)，測(cè)量所述參照點(diǎn)與所述混合現(xiàn)實(shí)設(shè)備之間的距離，得到參照距離；獲取所述待測(cè)物體的灰度景深圖；根據(jù)所述參照距離和所述灰度景深圖得到所述待測(cè)物體上任一點(diǎn)與所述混合現(xiàn)實(shí)設(shè)備之間的距離。本發(fā)明提供的一種用于混合現(xiàn)實(shí)設(shè)備的空間測(cè)距方法和系統(tǒng)，可以快速地獲得待測(cè)物體表面上任一點(diǎn)的距離，具有測(cè)距速度快，測(cè)距精度高的優(yōu)點(diǎn)。