一種用于混合現(xiàn)實(shí)設(shè)備的空間測距方法和系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201710037828.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN106842219A | 公開(公告)日 | 2017-06-13 |
申請公布號(hào) | CN106842219A | 申請公布日 | 2017-06-13 |
分類號(hào) | G01S17/08(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 李劼 | 申請(專利權(quán))人 | 北京商詢科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京輕創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 北京商詢科技有限公司 |
地址 | 100085 北京市海淀區(qū)上地東路1號(hào)院1號(hào)樓401-B086 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種用于混合現(xiàn)實(shí)設(shè)備的空間測距方法和系統(tǒng),該方法包括以下步驟:選擇待測物體;選擇所述待測物體上的任一點(diǎn)作為參照點(diǎn),測量所述參照點(diǎn)與所述混合現(xiàn)實(shí)設(shè)備之間的距離,得到參照距離;獲取所述待測物體的灰度景深圖;根據(jù)所述參照距離和所述灰度景深圖得到所述待測物體上任一點(diǎn)與所述混合現(xiàn)實(shí)設(shè)備之間的距離。本發(fā)明提供的一種用于混合現(xiàn)實(shí)設(shè)備的空間測距方法和系統(tǒng),可以快速地獲得待測物體表面上任一點(diǎn)的距離,具有測距速度快,測距精度高的優(yōu)點(diǎn)。 |
