一種多角度透射光譜測(cè)試夾具

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201721723693.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN207540770U 公開（公告）日 2018-06-26
申請(qǐng)公布號(hào) CN207540770U 申請(qǐng)公布日 2018-06-26
分類號(hào) G01M11/02 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 楊曉華;張順華;潘帥;吳國(guó)強(qiáng);李文平;張梨清 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 杭州秋光科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州五洲普華專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 杭州秋光科技有限公司
地址 310018 浙江省杭州市經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)下沙21號(hào)大街600號(hào)2幢一樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種多角度透射光譜測(cè)試夾具，包括底座和若干不同角度的測(cè)試模塊；所述底座上設(shè)有一測(cè)試臺(tái)；所述底座的側(cè)面底端還設(shè)有定位臺(tái)，定位臺(tái)上設(shè)有兩個(gè)定位銷釘，兩個(gè)定位銷釘之間設(shè)有固定螺絲，固定螺絲上端設(shè)有旋鈕；所述測(cè)試模塊的中部開設(shè)一方形孔，所述測(cè)試模塊下表面還設(shè)有與軌道相配合的軌道槽，所述軌道槽與方形孔的底面貫穿且寬度一致，所述測(cè)試模塊下表面還設(shè)有兩個(gè)與測(cè)試臺(tái)上定位塊相配合的定位孔；測(cè)試模塊的斜坡面底端還設(shè)有兩個(gè)外延的凸臺(tái)；本實(shí)用新型改傳統(tǒng)測(cè)試夾具入射角度的單一性，使得一套夾具可以測(cè)試從0°?75°的測(cè)試角度，做測(cè)試多個(gè)樣品時(shí)，無(wú)需重新搭建測(cè)試光路，節(jié)省了時(shí)間成本，提高了勞動(dòng)效率。