厚膜混合集成電路測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201620157629.1 申請日 -
公開（公告）號 CN205404750U 公開（公告）日 2016-07-27
申請公布號 CN205404750U 申請公布日 2016-07-27
分類號 G01R31/3167(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉國慶 申請（專利權）人 威科電子模塊（深圳）有限公司
代理機構 長沙市和協(xié)專利代理事務所（普通合伙） 代理人 威科電子模塊（深圳）有限公司
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)蛇口沿山路28號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種厚膜混合集成電路測試系統(tǒng)，監(jiān)控裝置包括電腦主機、顯示器、系統(tǒng)電源、模擬總線背板、數(shù)字總線背板、模擬通用接口插槽、數(shù)字通用接口插槽、模擬測試選件模組、數(shù)字測試選件模組、器件接口板以及被測設備接口；檢測裝置包括一可閉合的夾具及設置于夾具上的檢測儀表，所述夾具包括基座、上載板及下載板，所述基座上設有支架，所述支架上設有用以控制所述上載板上下運動的控制機構。其優(yōu)點是結構簡單、使用方便、可靠。不僅能夠完成集成電路好壞的測試，而且，能夠實現(xiàn)集成電路各種性能，比如頻率測試、電流測試以及各種所需數(shù)據(jù)采集測試，操作簡單，測試過程簡單，效率較高。