厚膜混合集成電路測試儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201620158697.X 申請日 -
公開（公告）號 CN205450198U 公開（公告）日 2016-08-10
申請公布號 CN205450198U 申請公布日 2016-08-10
分類號 G01R31/28(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉國慶 申請（專利權(quán)）人 威科電子模塊（深圳）有限公司
代理機構(gòu) 長沙市和協(xié)專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 威科電子模塊（深圳）有限公司
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)蛇口沿山路28號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種厚膜混合集成電路測試儀，包括監(jiān)控裝置和檢測裝置，所述監(jiān)控裝置包括主機及與主機連接的顯示器，監(jiān)控模組包括單片機控制模塊以及與單片機控制模塊連接的高精度頻率測量模塊、加壓測流模塊、數(shù)據(jù)采集電路模塊、鍵盤鍵入模塊、顯示模塊和電源模塊；所述檢測裝置包括一可閉合的夾具及設(shè)置于夾具上的檢測儀表，檢測儀表通過信號線與所述主機信號連接。其優(yōu)點是結(jié)構(gòu)簡單、使用方便、可靠。不僅能夠完成集成電路好壞的測試，而且，能夠?qū)崿F(xiàn)集成電路各種性能，比如頻率測試、電流測試以及各種所需數(shù)據(jù)采集測試，操作簡單，測試過程簡單，效率較高。