均勻雙各向同性媒質(zhì)物體的雷達(dá)散射截面獲取方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201110326369.8 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN102508220B 公開(kāi)（公告）日 2013-09-18
申請(qǐng)公布號(hào) CN102508220B 申請(qǐng)公布日 2013-09-18
分類號(hào) G01S7/41(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 卞紅河;鄒志粘;袁志巍;章秀銀 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 鄭州微納科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京品源專利代理有限公司 代理人 西瑞克斯通信技術(shù)股份有限公司;鄭州微納科技有限公司
地址 100101 北京市海淀區(qū)首體南路22號(hào)國(guó)興大廈18層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及電磁波與雷達(dá)監(jiān)測(cè)領(lǐng)域，提供了均勻雙各向同性媒質(zhì)物體的雷達(dá)散射截面獲取方法；該方法通過(guò)建立均勻雙各向同性媒質(zhì)物體的幾何模型，將其表面剖分為無(wú)縫連接的多個(gè)三角形面元；引入面電源矢量函數(shù)和面磁源矢量函數(shù)；在均勻雙各向同性媒質(zhì)物體內(nèi)應(yīng)用場(chǎng)分解方法；根據(jù)邊界條件，在散射體表面得到邊界積分方程；應(yīng)用矩量法對(duì)邊界積分方程進(jìn)行數(shù)值求解，包括空間檢驗(yàn)與時(shí)間檢驗(yàn)；空間基函數(shù)與檢驗(yàn)函數(shù)采用RWG基函數(shù)，時(shí)間基函數(shù)與檢驗(yàn)函數(shù)采用帶幅度因子的拉蓋爾函數(shù)；根據(jù)等效原理，得到觀察點(diǎn)的電磁散射，再應(yīng)用傅里葉變換得到雷達(dá)散射截面；本發(fā)明獲得的均勻雙各向同性媒質(zhì)物體的散射場(chǎng)穩(wěn)定并且可以得到寬頻域的雷達(dá)散射截面。