單板復位測試的監(jiān)控方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910762638.1 申請日 -
公開（公告）號 CN110515815A 公開（公告）日 2019-11-29
申請公布號 CN110515815A 申請公布日 2019-11-29
分類號 G06F11/34;G06F11/22 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 黃秋霞 申請（專利權）人 成都華鐳科技有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 610000 四川省成都市雙流區(qū)東升街道成都芯谷產業(yè)園集中區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種單板復位測試的監(jiān)控方法，包括如下步驟：S1：首先讀取芯片的存儲器，并寫入當前復位類型對應標志位，當寫入失敗時反復讀取所述存儲器并進行校驗直至所述標志位寫入成功；S2：判斷每發(fā)生一次復位測試，都對當前復位類型標志位計數(shù)加一；S3：判斷寫入標志位的值與復位設定值相比是否相等，寫入標志位的值即單板本次自動化測試該類型復位發(fā)生的實際次數(shù)；S4：判斷輸出日志中統(tǒng)計的復位總次數(shù)與總復位設定次數(shù)相比較是否相符，日志中統(tǒng)計的復位總次數(shù)即本次自動化單板總復位次數(shù)。該方法不僅可以快速定位當前類型復位測試是否成功，可以判斷本輪測試是否產生了異常復位，以便及時、準確地判斷單板是否符合設計需求，使測試更加有效。