一種芯片測(cè)試平臺(tái)的保護(hù)裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202021794339.0 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN213482378U 公開(kāi)(公告)日 2021-06-18
申請(qǐng)公布號(hào) CN213482378U 申請(qǐng)公布日 2021-06-18
分類號(hào) G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 楊良春;趙永峰 申請(qǐng)(專利權(quán))人 安徽信諾達(dá)微電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 233000安徽省蚌埠市財(cái)院路10號(hào)214所內(nèi)(科研綜合樓)2層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型屬于芯片測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,尤其為一種芯片測(cè)試平臺(tái)的保護(hù)裝置,包括測(cè)試平臺(tái)本體、連接板和保護(hù)蓋,所述測(cè)試平臺(tái)本體頂部固定連接有兩個(gè)對(duì)稱分布的滑軌,所述滑軌上開(kāi)設(shè)有滑槽,所述測(cè)試平臺(tái)本體頂部固定連接有芯片夾具,所述連接板位于所述測(cè)試平臺(tái)本體一端頂部,所述連接板一側(cè)底部固定連接有強(qiáng)力磁鐵;首先將連接板與測(cè)試平臺(tái)本體進(jìn)行連接,然后再把保護(hù)蓋與測(cè)試平臺(tái)上的滑軌進(jìn)行連接,推動(dòng)保護(hù)蓋在滑軌上滑動(dòng),使強(qiáng)力磁鐵吸附住連接金屬塊,從而對(duì)保護(hù)蓋進(jìn)行固定,這樣在測(cè)試平臺(tái)本體閑置的時(shí)候,通過(guò)保護(hù)蓋會(huì)對(duì)測(cè)試平臺(tái)本體上的芯片夾具起到一個(gè)保護(hù)的作用,避免外部的灰塵落到芯片夾具上影響其靈敏度。