一種用于COF/FPC的導電粒子壓痕檢查裝置及檢查方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110770553.5 申請日 -
公開（公告）號 CN113369171A 公開（公告）日 2021-09-10
申請公布號 CN113369171A 申請公布日 2021-09-10
分類號 B07C5/34（2006.01）I;B07C5/38（2006.01）I;B65G43/08（2006.01）I;B65G47/22（2006.01）I;B65G47/42（2006.01）I;B65G47/88（2006.01）I;G01N21/89（2006.01）I;G06M7/00（2006.01）I;H05K1/14（2006.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 鄧龍文 申請（專利權(quán)）人 南京冠石科技股份有限公司
代理機構(gòu) 南京冠譽至恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 郭曉敏
地址 210000江蘇省南京市棲霞區(qū)新港經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)恒廣路21號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種用于COF/FPC的導電粒子壓痕檢查裝置，所述導電粒子壓痕檢查裝置設(shè)置在上游設(shè)備和下游設(shè)備之間，并與上游設(shè)備和下游設(shè)備銜接，導電粒子壓痕檢查裝置包括：上料裝置、載料裝置、傳送裝置、光學檢測裝置以及下料裝置；上料裝置用于接收產(chǎn)品并將產(chǎn)品放置在載料裝置上；載料裝置用于承載所述產(chǎn)品，傳送裝置驅(qū)動載料裝置循環(huán)移動；光學檢測裝置用于對所述產(chǎn)品進行導電粒子的壓痕檢測，并輸出檢測結(jié)果；下料裝置用于將載料裝置上檢測合格的產(chǎn)品取下并傳遞給下游設(shè)備；實現(xiàn)對上游設(shè)備綁定完成的產(chǎn)品的導電粒子壓痕進行自動檢測，并可以與上游設(shè)備和下游設(shè)備友好銜接，實現(xiàn)全程自動化，保證生產(chǎn)過程的連續(xù)性，提高生產(chǎn)效率，滿足實際生產(chǎn)需求。