IC試驗(yàn)裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202021891013.X 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN213091815U 公開（公告）日 2021-04-30
申請(qǐng)公布號(hào) CN213091815U 申請(qǐng)公布日 2021-04-30
分類號(hào) G01R31/28;G01R1/04 分類 測量；測試;
發(fā)明人 向菊 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市羿烽科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 重慶百潤洪知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 郝艷平
地址 518000 廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道桃源社區(qū)前進(jìn)二路134號(hào)錦聯(lián)大廈A708
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型涉及集成電子領(lǐng)域技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及IC試驗(yàn)裝置，包括：工作臺(tái)、定位組件、傳動(dòng)帶組件、壓緊組件和探針組，其特征在于，所述探針組件固定安裝在所述定位組件底部，所述傳動(dòng)帶組件固定安裝在所述定位組件兩端且平鋪于所述定位組件表面，所述壓緊組件固定安裝在所述探針組件底部，且所述壓緊組件與所述傳動(dòng)帶組件由同一動(dòng)力驅(qū)動(dòng)，所述定位組件吊設(shè)在所述工作臺(tái)上。本實(shí)用新型的有益效果在于：能夠批量且自動(dòng)化試驗(yàn)測試集成電路芯片電氣性能，無需人工操作，試驗(yàn)效率高，測試結(jié)果穩(wěn)定可靠，提高質(zhì)檢效率。