一種環(huán)形器件的質(zhì)量檢測(cè)方法及裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201910792187.6 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN112435210A | 公開（公告）日 | 2021-03-02 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112435210A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-03-02 |
| 分類號(hào) | G06T7/62(2017.01)I;G06T7/13(2017.01)I;G06T7/00(2017.01)I | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 黃永禎;向祖松;于仕琪 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 中科水滴科技（深圳）有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京超成律師事務(wù)所 | 代理人 | 王文紅 |
| 地址 | 100191北京市海淀區(qū)學(xué)院路51號(hào)7層0701 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N環(huán)形器件的質(zhì)量檢測(cè)方法及裝置，包括：獲取待檢測(cè)環(huán)形器件的圖像；從所述圖像中確定所述待檢測(cè)環(huán)形器件的中心點(diǎn)，并確定所述待檢測(cè)環(huán)形器件的邊緣上的多個(gè)目標(biāo)位置點(diǎn)分別與所述中心點(diǎn)的距離；將各個(gè)所述目標(biāo)位置點(diǎn)分別與所述中心點(diǎn)之間的距離進(jìn)行離散傅里葉變換，得到用于表征所述距離變化情況的頻譜數(shù)據(jù)集合，并基于所述頻譜數(shù)據(jù)集合得到能夠表征所述待檢測(cè)環(huán)形器件邊緣輪廓特征的特征向量；將所述特征向量輸入至預(yù)先訓(xùn)練好的瑕疵檢測(cè)模型中，得到所述待檢測(cè)環(huán)形器件的質(zhì)量檢測(cè)結(jié)果，其中，所述檢測(cè)結(jié)果包括具有瑕疵和沒有瑕疵中的一種。通過這種方法，可以提高環(huán)形器件的質(zhì)量檢測(cè)效率和準(zhǔn)確率。?? |
