扇出型封裝方法和扇出型封裝結(jié)構(gòu)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111452504.3 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114141726A | 公開(公告)日 | 2022-03-04 |
申請公布號 | CN114141726A | 申請公布日 | 2022-03-04 |
分類號 | H01L23/31(2006.01)I;H01L21/56(2006.01)I;H01L23/488(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 徐玉鵬;何正鴻 | 申請(專利權(quán))人 | 甬矽電子(寧波)股份有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 梁曉婷 |
地址 | 315400浙江省寧波市余姚市中意寧波生態(tài)園興舜路22號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明的實施例提供了一種扇出型封裝方法和扇出型封裝結(jié)構(gòu),涉及半導(dǎo)體封裝技術(shù)領(lǐng)域,其通過設(shè)置第二載具,結(jié)合第一載具,能夠在后續(xù)的塑封過程中提供強有力的支撐,并且第二載具能夠減少塑封時的回流沖擊,進而防止塑封體發(fā)生翹曲。此外,第二載具罩設(shè)在半導(dǎo)體器件外,半導(dǎo)體器件的下部由第一載具遮擋,上部由第二載具遮擋,從而能夠遮擋制備或運輸過程中的落塵,避免塑封前落塵與內(nèi)部的半導(dǎo)體器件接觸而導(dǎo)致的ESD擊穿或者封裝中產(chǎn)生缺陷問題。并且,第二載具還可以作為轉(zhuǎn)運過程中的夾持對象,防止半導(dǎo)體器件的觸碰和損傷,并實現(xiàn)晶圓正面抓取,可以避免晶圓翻轉(zhuǎn)抓取,大幅提高晶圓加工效率。 |
