一種光學(xué)鏡片的瑕疵檢測方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202011598180.X | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112816408A | 公開(公告)日 | 2021-05-18 |
申請公布號 | CN112816408A | 申請公布日 | 2021-05-18 |
分類號 | G01N21/01;G01N21/958 | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 陶春 | 申請(專利權(quán))人 | 南京施密特光學(xué)儀器有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 南京金寧專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 張希睿 |
地址 | 211212 江蘇省南京市溧水區(qū)東屏鎮(zhèn)工業(yè)區(qū)金港路16號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種光學(xué)鏡片的瑕疵檢測方法,本發(fā)明通過深度學(xué)習(xí)與計(jì)算機(jī)視覺技術(shù)檢測光學(xué)鏡片劃痕,毛邊,氣泡,缺口,螺紋等瑕疵。本發(fā)明提供了一種高魯棒性的光學(xué)鏡片瑕疵檢測技術(shù),創(chuàng)新點(diǎn)在于瑕疵檢測的高魯棒性,準(zhǔn)確性,并能夠應(yīng)用于不同場景下的瑕疵檢測。該方法包括:通過輸入單元及數(shù)據(jù)庫采集光學(xué)鏡片瑕疵數(shù)據(jù);分析處理數(shù)據(jù):根據(jù)已知數(shù)據(jù),對數(shù)據(jù)集進(jìn)行數(shù)據(jù)預(yù)處理;設(shè)計(jì)深度學(xué)習(xí)模型:通過輸入訓(xùn)練集,建立端到端的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型;設(shè)計(jì)訓(xùn)練策略,增加模型準(zhǔn)確率,魯棒性;將測試集輸入訓(xùn)練模型,得到預(yù)測結(jié)果。 |
