光學(xué)檢測儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201630154948.2 申請日 -
公開（公告）號 CN303967346S 公開（公告）日 2016-12-14
申請公布號 CN303967346S 申請公布日 2016-12-14
分類號 10-05(10) 分類 -
發(fā)明人 劉翥 申請（專利權(quán)）人 蘇州恒善通電子科技有限公司
代理機構(gòu) 東莞市華南專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 代理人 廣東每通測控科技股份有限公司;北京市每通電子科技有限公司;蘇州恒善通電子科技有限公司
地址 523000 廣東省東莞市萬江區(qū)滘聯(lián)工業(yè)區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 1．本外觀設(shè)計產(chǎn)品的名稱：光學(xué)檢測儀。2．本外觀設(shè)計產(chǎn)品的用途：本外觀設(shè)計產(chǎn)品用于對產(chǎn)品生產(chǎn)中的零部件進行缺陷檢測的設(shè)備。3．本外觀設(shè)計產(chǎn)品的設(shè)計要點：本外觀的設(shè)計要點在于產(chǎn)品的形狀。4．最能表明本外觀設(shè)計設(shè)計要點的圖片或照片：主視圖。