一種基于原子力顯微鏡的模塊式激光輔助平臺
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202010145034.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN111257600A | 公開(公告)日 | 2020-06-09 |
申請公布號 | CN111257600A | 申請公布日 | 2020-06-09 |
分類號 | G01Q60/24(2010.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 卓少木;張嘉榮;鄧建南;朱相優(yōu) | 申請(專利權(quán))人 | 廣州精點科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京化育知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 廣州精點科技有限公司;廣東工業(yè)大學(xué) |
地址 | 510006廣東省廣州市番禺區(qū)小谷圍街大學(xué)城廣東工業(yè)大學(xué)3號、5號、6號樓首層自編之B124之1號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于AFM可自動調(diào)節(jié)光斑大小的方法及其激光輔助平臺,主要應(yīng)用于原子力顯微鏡的光電流的檢測,其中主要包括激光器、光束準直器、光束擴束器、光束整形器、光束輸出器、Y手動位移臺、XZB位移模組、樣品臺。所述的激光器發(fā)出的激光,經(jīng)過光束準直器、光束擴束器、光束整形器、光束輸出器之后將會匯聚成一個焦點,焦點光斑將打在樣品的表面,激發(fā)樣品產(chǎn)生光電流反應(yīng),光斑大小可由算法自動調(diào)節(jié),并附與手動微調(diào)位移臺,實現(xiàn)光斑大小和位置的精準控制。?? |
