一種陣列式多維度測斜儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910501605.1 申請日 -
公開（公告）號 CN110132235B 公開（公告）日 2021-07-30
申請公布號 CN110132235B 申請公布日 2021-07-30
分類號 G01C9/00;G01C21/16;G01C21/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王鵬軍;楊華中;陳觀福;章立峰;張鵬升;翟海青;馮樂 申請（專利權(quán)）人 北京源清慧虹信息科技有限公司
代理機構(gòu) 北京冠和權(quán)律師事務(wù)所 代理人 朱健;張國香
地址 100000 北京市海淀區(qū)萊圳家園18號樓3層3016
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種陣列式多維度測斜儀，該陣列式多維度測斜儀包括兩兩相互依次連接的若干節(jié)傳感器模塊共同組成一個測斜陣列，每一節(jié)傳感器模塊均包括三軸重力加速度數(shù)據(jù)采集單元、三軸地磁數(shù)據(jù)采集單元和處理器單元，該三軸重力加速度數(shù)據(jù)采集單元用于采集其對應(yīng)的傳感器模塊的三軸重力加速度分量數(shù)據(jù)，該三軸地磁數(shù)據(jù)采集單元用于采集其對應(yīng)的傳感器模塊的三軸地磁分量數(shù)據(jù)，該處理器單元用于根據(jù)三軸重力加速度分量數(shù)據(jù)和三軸地磁分量數(shù)據(jù)，通過預設(shè)姿態(tài)解算算法計算其對應(yīng)的傳感器模塊的姿態(tài)信息。