一種晶振振蕩檢測電路

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210094632.3 申請日 -
公開（公告）號 CN114578153A 公開（公告）日 2022-06-03
申請公布號 CN114578153A 申請公布日 2022-06-03
分類號 G01R31/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王肖;蔡杰 申請（專利權(quán)）人 奉加科技（上海）股份有限公司
代理機構(gòu) 上海晨皓知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 成麗杰
地址 201403 上海市奉賢區(qū)嵐豐路1150號1幢6043室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請?zhí)峁┝艘环N晶振振蕩檢測電路，該晶振振蕩檢測電路包括用于檢測高頻晶振由起振至平穩(wěn)的第一檢測電路和第二檢測電路；第一檢測電路在第一時間內(nèi)利用RC時鐘對高頻晶振的振動頻次多次檢測，在第一時間之內(nèi)的任意時段的兩次振動頻次相差最小數(shù)值時，第一檢測電路停止檢測；振動頻次處于平穩(wěn)狀態(tài)的高頻晶振進(jìn)行分頻；第二檢測電路在第二時間內(nèi)利用RC時鐘對的高頻晶振的分頻振動頻次多次檢測，在第二時間之內(nèi)的任意時段的兩次分頻振動頻次相差最小數(shù)值時，第二檢測電路停止檢測。以上描述中可以看出，利用RC時鐘精確計算高頻晶振由起振至完全穩(wěn)定的時間點，不需要再反復(fù)試驗得出起振時間，最大程度規(guī)避資源浪費，降低芯片死機概率。