芯片的Trim測試方法和自動測試設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911364550.0 申請日 -
公開（公告）號 CN111142006A 公開（公告）日 2020-05-12
申請公布號 CN111142006A 申請公布日 2020-05-12
分類號 G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張靈靈 申請（專利權(quán)）人 上海嶺芯微電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 代理人 上海嶺芯微電子有限公司
地址 200233 上海市徐匯區(qū)宜山路810號貝嶺大廈15樓C座
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種芯片的Trim測試方法，包括以下步驟：獲得多個修調(diào)元件中每一修調(diào)元件的修調(diào)量；計算所述多個修調(diào)元件的各種組合下的各個組合修調(diào)量；獲得所述芯片的預(yù)定節(jié)點的檢測值和目標(biāo)值；根據(jù)所述各個組合修調(diào)量與所述檢測值計算各個修調(diào)結(jié)果；計算所述各個修調(diào)結(jié)果與所述目標(biāo)值之差的絕對值；選擇與所述目標(biāo)值之差的絕對值最小的修調(diào)結(jié)果；以及根據(jù)所選擇的修調(diào)結(jié)果確定所述多個修調(diào)元件的組合。